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优化扫描模式排序,降低测试/诊断成本(.PDF下载)

2019年3月26日
优化扫描模式排序,降低测试/诊断成本(.PDF下载)

要在测试成本、测试质量和用于运行诊断的数据收集之间找到合适的平衡,需要考虑几个相互竞争的因素。幸运的是,有一些最佳实践可以创建高效的具有成本效益的模式集,并将它们以最佳顺序应用于缺陷部件的检测和诊断。

测试工程师可以通过应用大量的模式和模式类型(例如栅穷举模式)来改进缺陷检测和硅质量,但是这样做代价很高。更经济有效的方法是在不过度测试的情况下检测出最多硅缺陷的故障模型类型。要做到这一点,可以创建一个序列,以便每个模式集可以针对其他故障类型进行故障模拟,然后创建额外的“充值”模式来针对剩余的未检测到的故障。这种交叉故障模拟对于降低测试成本具有重要意义。

挑战在于确定创建模式的顺序。一般来说,优先创建具有最严格检测要求的模式,例如路径延迟模式。图1说明了一个典型的模式生成过程。

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