在周二在Niweek 2010年的主题演讲期间宣布欢呼，国家仪器NI PXIE-5630（见图的）是行业的第一个矢量网络分析仪（VNA）紧凑的PXI形状因子。6-GHz，双端口仪器支持传输和反射（T / R）参数的全矢量分析。
VNA具有精确的自动校准和灵活的软件定义架构，适合自动设计验证和生产测试。它的模块化PXI架构和小的双插槽占用空间使得测试工程师可以将矢量网络分析合并到他们的测试系统中，而不需要增加传统的台式VNAs的成本和占用空间。
根据国家仪器的产品营销高级集团经理Richard McDonell表示，NI PXIe-5630代表了该公司在十年内解决新兴自动化测试需求的努力，该公司将以嵌入式无线功能的扩散为主。
“NI PXIe-5630填写了我们的RF测试平台，”McDonell说。
传统的VNA太大且太昂贵，无法在生产测试环境中部署。PXI仪器通过将低端和高端VNA的元素组合在生产环境中工作的形式因素中来回答这些需求。
NI PXIe-5630针对具有成熟功能集的自动化测试进行了优化，包括自动精度校准，对端口，参考平面扩展以及适合并行测试的灵活LabVIEW应用程序编程接口（API）的完全矢量分析。
VNA还提供先进的性能规范，包括10 MHz至6 GHz的频率范围，大于110 dB的宽动态范围，扫描速度小于400μs/点，超过3201点。由于其PXI配置，工程师可以在单个PXI机箱中组合多达八个NI PXIe-5630模块，并以真正的并行方式执行多路RF测试。
工程师可以使用其全功能的软前面板进行交互式控制NI PXIe-5630，或者以APIS为NI LabVIEW软件和NI LabWindows / CVI ANSI C开发环境。两个API都针对多核处理进行了优化，以便于多个RF分量的并行测试，它通过顺序开关测试提供了显着的吞吐量优势。
VNA将于2010年10月提供。定价从25,999美元开始。
