可按需
最初广播:2019年12月11日，星期三
赞助商:美国泰克
持续时间:1小时
简介:
由于云计算能力、存储容量和网络带宽的要求不断提高，服务器/存储行业正在迅速向PCIe Gen5迈进。这种快速发展为基硅测试和CEM兼容测试带来了一套全新的测试和测量挑战。
我们的网络研讨会将讨论如何解决一些新的测试和测量挑战的PCIE 5.0在32.0 GT/s。
本讲座的主要主题如下:
- Tektronix软件解决方案的PCI Express 5.0 Base Tx方法和演示。
- PCI Express 5.0主板TX方法。讨论不同方法和泰克解决方案的优缺点。
- PCI Express 5.0 Base Rx校准方法演练和泰克软件选项。
演讲者:
丹Froelich，系统工程总监和领域专家，PCIe，泰克
Dan Froelich于2018年11月加入泰克。在之前的18年里，Dan担任英特尔工程师和架构师，专注于USB和PCI Express标准的规范和合规测试方法开发。Dan曾担任PCI-SIG电气工作组的联合主席和PCIe 4.0和PCIe 5.0规范开发的电气规范的技术编辑。丹也作为一种总线标准团体的主席卡机电(CEM)工作组和技术编辑从2005年到2018年的PCI Express 2.0, 3.0, 4.0和5.0杰姆规范早期发育丹Froelich毕业以优异成绩和高区别于1996年的哈维穆德学院物理学学士学位。丹拥有6项美国专利，还有几项申请正在申请中。
大卫酒，泰克公司系统工程师
David Bouse于2018年12月加入Tektronix，担任系统工程师。之前，我在USB和PCIe行业工作，专注于Tx/Rx测试方法，波形后处理工具(SigTest)，测试夹具设计和测试规格开发。
