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EMI故障排除和使用示波器和频谱分析仪的符合性测试

2019年10月4日
由Tektronix赞助的电子设计托管的按需网络研讨会

可点播
最初广播:
2019年10月22日星期二
赞助:Tektronix.
期间:1小时

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概括:

如今,研发工程师面临着挑战的上市时间目标。扩展产品开发计划并延迟由于FCC,CE,EMC或其他RF相关故障而延迟产品发布可以非常昂贵。在本演示文稿中,Tektronix产品营销经理Dylan Stinson讨论了通过获取产品通过电磁兼容性(EMC)的最新挑战,以及如何使用实时频谱分析仪和混合信号RF的示波器来诊断,故障排除和预测试产品用于辐射和进行排放。考虑到失败的成本 - 50%的产品首次失败 - 对于组织来投资自己的内部EMC预遵守和故障排除套件是值得的。您将了解工具中的差异以及如何执行这些重要测量。

扬声器:


迪伦斯坦森,产品营销经理Tektronix

前五金工程师Dylan Stinson是Tektronix的RF / MicroWave产品的产品营销经理。他过去三年与客户和行业合作伙伴密切合作,以定义市场要求并部署测试和测量解决方案。他拥有来自俄勒冈州立大学的BSEE,专注于高频系统和电磁。

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