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在电子测试中使用基于PXI的故障插入和传感器仿真

由皮克塞特接口赞助的电子设计和评估工程托管网络研讨会

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最初广播:
2021年9月23日星期四
赞助:皮革界面
期间:1小时

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概括

电子控制单元(ECU)今天存在于许多应用中,通常用于执行不仅具有高可靠性,而且具有高的操作可预测性的特派团和安全关键情况。这些ECU的正确操作通常通过循环(HIL)仿真中的硬件来验证,该硬件替换了通过电子模拟器监控ECU的现实环境的传感器。

故障插入也通常用于HILS系统中,以确保ECU在所有可能的良好和不良操作条件下安全可靠地操作。随着ECU复杂的不断增加,必须自动化此故障测试以保持验证过程快速和可重复。

在本网络研讨会中,皮克林将讨论使用行业标准PXI平台的HILS自动故障插入和传感器仿真的好处。详细信息包括:

  • 介绍硬件内仿真和故障插入
  • 用于测试系统的PXI故障插入解决方案
  • 用于测试系统的PXI仿真解决方案

扬声器

Paul Bovingdon,仿真产品经理,皮革界面

Paul Bovingdon,Simulation Productdon for Rickering Interfaces,自2006年以来,在皮克林界面举办了设计工程和产品管理角色。他是在英国公司的总部。保罗在伯明翰大学的电子和计算机工程中拥有一个物理学和研究生文凭。保罗也是IOP(物理研究所)和IET(工程和技术机构)的成员。


Steve Edwards,切换产品经理,皮革界面

STEVEN EDWARDS,STEVEN EDWARDS为Pickering Interfaces切换产品经理,自2004年以来在皮克林界面举行了多个设计和管理角色。他基于该公司在英国的总部,支持在许多行业全球范围内的客户的交换要求。随着多十年的电子行业经验,他有助于扩展拾取界面产品组合。

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