能够满足需求
最初广播:2020年6月2日，星期二
赞助商:美国泰克
持续时间:1小时
总结
我们的网络研讨会回顾了与一些最常见的需要测试的设备和应用相关的电测量挑战。我们将看看与晶体管和各种二极管类型的测量相关的问题，以及电源管理应用和一些特殊应用，如激光二极管LIV和电池放电测试。
我们将探讨您可能遇到的挑战，包括为避免设备损坏而进行的脉冲测试，晶闸管效应，即在光电器件中发现的I-V曲线的“扭结”，以及测试同步。在此之后，我们将回顾仪器及其在减少或加剧测量挑战方面所起的作用。对于正在审查的应用，我们将展示一个源测量单元(SMU)仪器如何具有同时对电压和电流进行源和测量的能力，提供了提高测量精度和精度的潜力，并取代多达5个单独的仪器。
通过观看本次网络研讨会，您将了解到:
- 在当今最常见的电气设备类型/应用中发现了关键的测量挑战
- 解决这些度量挑战的关键问题
- 仪器选择在应对这些挑战中的作用
- 使用SMU仪器作为替代其他仪器类型的优点
演讲者
John Tucker，产品营销者，泰克公司
John Tucker是Tektronix, Inc.的Keithley Source Measure Unit产品线的产品营销者。他在Keithley工作了30多年，担任过各种职位，包括测试工程师、应用工程师、应用经理、产品经理和业务开发经理。
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