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EMI故障排除和合规前测试:通过混合信号示波器和实时频谱分析仪改善您的上市时间

由泰克公司主办的电子设计在线研讨会

可按需
最初广播:
2020年2月27日,星期四
赞助商:美国泰克
持续时间:1小时

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总结

今天,研发工程师面临着挑战性的上市时间目标。由于FCC、CE、EMC或其他与rf相关的故障,延长产品开发计划和推迟产品发布可能会花费极大的代价。在本次演讲中,泰克产品营销经理Dylan Stinson讨论了让产品通过电磁兼容性(EMC)的最新挑战,以及如何使用实时频谱分析仪和支持混合信号rf的示波器进行诊断、故障排除、并对产品进行辐射和传导排放的预测试。考虑到失败的成本(50%的产品在第一次使用时就失败了),组织投资于自己的内部EMC预遵从性和故障排除工具包是值得的。您将了解这些工具的不同之处,以及如何执行这些重要的测量。

演讲者

迪伦·斯廷森,泰克公司产品营销经理

前硬件工程师Dylan Stinson是泰克射频/微波产品的产品营销经理。在过去的三年里,他与客户和行业合作伙伴密切合作,定义市场需求,部署测试和测量解决方案。他持有俄勒冈州立大学(Oregon State University)的高频率系统和电磁学学士学位。


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